Menşe Yeri
Shanghai, China
tip
Ultraviyole görünür spektrometre
Özelleştirilmiş destek
OEM, ODM, OBM
Dalga boyu aralığı
200-1000nm
Dalgaboyu doğruluğu
± 1.0nm
Dalga boyu tekrarlanabilirlik
0.2nm
Fotometrik doğruluk
± % 0,3 t
Fotometrik tekrarlanabilirlik
% 0,15 t
Kaçak ışık
% 0,05 t (220nm nai, 340nm nano2)
Kararlılık
0.001a/30 dk @ 500nm
Fotometrik ekran aralığı
-0.3 ~ 3a